DPA分析|DPA分析实验室|GRGT实验室

DPA（破坏性物理分析）在广电计量（GRGT）进行，涉及航空航天，商业，军事和政府应用中使用的“高可靠性”电子元件和材料。
电子元件的寿命遵循可预测的趋势。 大量组件在很小的时候就过早失效（“婴儿死亡率”）。 婴儿死亡率问题可以通过在制造过程中实施严格的质量控制来解决。 金属化，玻璃化分析，彻底的精密检查，电老化和DPA程序的SEM检查将识别各自的问题。
一旦经过这个初始失效阶段，它们通常会以很低的失败概率执行很长一段时间。 执行破坏性物理分析（DPA）以确定用于空间和运载火箭设计的高质量部件。 这是一个全面的测试程序，对给定批次的零件进行抽样，以评估其质量和可靠性。 DPA用于检查和验证这些部件的内部设计，材料，结构和工艺。 该分析对于确定那些具有异常或缺陷的部件很有用，这些异常或缺陷可能在以后导致退化或灾难性系统故障。 DPA对要测试的每个部件进行多项电气，机械和分析测试，以确保产品可靠性或确定可能性和/或可能的故障原因。 我们的设施是DLA（国防后勤局）认证，符合各种MIL-STD测试要求，包括GJB4027A-2006，MIL-STD-1580，MIL-STD-883，MIL-STD 750，MIL-STD-202 和更多。
在DPA测试期间的剪切
DPA通常被航空航天工业用于将电子元件鉴定为“S”级。 越来越多的商业应用正在使用DPA筛选来显着提高其产品在现场的可靠性。 较高可靠性的电子元件通常需要长时间工作，几乎没有或没有更换的机会。 轨道卫星就是这种情况的好例子。 符合“空间使用”要求的零件也用于难以更换和/或失效的应用中。