随着信息化的发展， MCU运算和信息存储速度越来越快，高速时钟、快速运算和存储信号会引起的很强的电磁干扰；由于系统集成度越来越高，零部件的体积越来越小，零部件模块干扰之间的相互耦合不可避免，很容易将内部的干扰带出来从而引起发射测试失败。
汽车电子零部件EMC发射测试包含CTE(电源线瞬态传导发射），MFE(低频磁场发射)，CE(传导发射-AN(电压法)和CP(电流法))以及RE(辐射发射)四项，下面我们来一一解析：
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随着信息化的发展， MCU运算和信息存储速度越来越快，高速时钟、快速运算和存储信号会引起的很强的电磁干扰；由于系统集成度越来越高，零部件的体积越来越小，零部件模块干扰之间的相互耦合不可避免，很容易将内部的干扰带出来从而引起发射测试失败。
汽车电子零部件EMC发射测试包含CTE(电源线瞬态传导发射），MFE(低频磁场发射)，CE(传导发射-AN(电压法)和CP(电流法))以及RE(辐射发射)四项，下面我们来一一解析：
汽车电子发射测试项目
1、CTE测试失败
CTE测试的失败一般由内部大功率的磁性器件引起，如电机的线圈，电磁铁的线圈、滤波电路中的大功率电感等，这些部件在关闭的瞬间会产生很强的瞬态脉冲。
CTE测试失败数据
2、MFE测试失败
MFE测试的失败一般由内部大功率的磁性器件引起，如电机的线圈，电磁铁的线圈、新能源部件中的大功率感性部件等，这些部件在工作时会产生的低频磁场干扰。
MFE测试失败数据
3、CE测试失败
CE测试中的失败一般由开关电源和地处理不良引起，测试数据中的窄带骚扰引起超标一般为开关电源引起，宽带骚扰超标一般由地处理不良引起。
开关电源模块引起的AN测试失败-窄带骚扰
地处理不良引起的CP测试失败-宽带骚扰
4、RE测试失败
RE测试中的低频失败一般由开关电源和地处理不良引起，高频失败一半为内部时钟或晶振的处理不良引起倍频超标，这些信号会有很强的规律，很容易区分。
开关电源模块引起的RE测试失败
地处理不良引起的RE测试失败
EMC检测作为产品性能测试的重要指标之一，对汽车安全及产品品质至关重要。汽车电子零部件EMC测试发射虽然看不见、摸不着，但还是有一定的规律可循，如遇到失败，可多和实验室的测试人员和项目工程师进行沟通，可帮助客户快速定位发射失败的原因，协助客户解决EMC发射失败问题。
来源：TUV莱茵
长沙容测电子有限公司致力于电磁兼容测试设备的研发以及电磁兼容测试技术的推广普及，全力为客户提供专业的EMC测试产品和解决方案。
我们的产品：
民用领域：静电放电发生器、脉冲群发生器、雷击浪涌测试仪、射频传导抗干扰测试系统、工频磁场发生器、脉冲磁场发生器、阻尼振荡磁场发生器、交流电压跌落发生器、振铃波发生器、共模传导抗扰度测试系统、阻尼振荡波发生器、直流电压跌落发生器等
汽车领域：静电放电发生器、7637测试系统、汽车电子可编程电源、瞬态发射开关测量、汽车线束微中断发生器、BCI大电流注入测试系统、EMI接收机、辐射抗扰度测试系统、低频磁场抗扰度测试系统、射频辐射抗扰度测试系统等
军工领域：静电放电发生器、低频传导抗扰度测试系统、尖峰脉冲发生器、电缆束注入测试系统、快速方波测试系统、高速阻尼振荡测试系统等