AEC-Q102认证_高温工作寿命HTOL_HTOL试验条件_HTOL样品数量要求
2020-08-21 09:18阅读：
AEC-Q102案例COB封装器件之高温工作寿命HTOL试验条件及试验要求
项目名称：
高温工作寿命（High Temperature Operating Life，HTOL）
试验条件：
依据AEC-Q102；Tc=～112；Tj=～120; If=280mA；保持时间：1000 h
样品数量：
26 pcs. * 3 lots
试验信息:
参考方法：JEDEC JESD22-A108F
通电情况：280 mA；连续通电
试验温度：Tc = ～112; Tj=～120
试验时间：1000 h
光电参数测试节点：
0 h（初测）/ 168 h / 500 h / 1000 h（终测）
仪器设备：
光电参数测试系统
半导体分立器件测试系统
晶体振荡器高温老化测试系统
试验要求：
合格判据如下表：应力试验前后光电参数
项目名称：
高温工作寿命（High Temperature Operating Life，HTOL）
试验条件：
依据AEC-Q102；Tc=～112；Tj=～120; If=280mA；保持时间：1000 h
样品数量：
26 pcs. * 3 lots
试验信息:
参考方法：JEDEC JESD22-A108F
通电情况：280 mA；连续通电
试验温度：Tc = ～112; Tj=～120
试验时间：1000 h
光电参数测试节点：
0 h（初测）/ 168 h / 500 h / 1000 h（终测）
仪器设备：
光电参数测试系统
半导体分立器件测试系统
晶体振荡器高温老化测试系统
试验要求：
合格判据如下表：应力试验前后光电参数
| 参数 |
符号 |
合格判据 |
测试条件 |
试验项目 |
| 光通量 | Φ | ±20% | If=280mA | PC/ HTOL1/ WHTOL1/ WHTOL2/ TC/ PTC/ HBM/ CDM/ VVF/
MS/ |