超声C扫描与射线CR扫描的区别

超声C扫描与射线CR扫描的区别

一.C扫描（超声波检测）
C扫描即为超声波扫描：主要是通过探头发射超声波来进行检测。当超声波遇到缺陷界面会反射回来被探头接收，通过仪器转为波形，比较波形高低来判断缺陷的大小。
主要原理是：超声波在被检测材料中传播时,材料的声学特性和内部组织的变化对超声波的传播产生一定的影响，通过对超声波受影响程度和状况的探测了解材料性能和结构变化的技术称为超声检测。
主要优点
①穿透能力强，探测深度可达数米；
②灵敏度高，可发现与直径约十分之几毫米的空气隙反射能力相当的反射体；
③在确定内部反射体的位向、大小、形状及性质等方面较为准确；
④仅须从一面接近被检验的物体；
⑤可立即提供缺陷检验结果;
⑥操作安全,设备轻便。
主要缺点
①要由有经验的人员谨慎操作；
②对粗糙、形状不规则、小、薄或非均质材料难以检查；
③对所发现缺陷作十分准确的定性、定量表征仍有困难。
二.CR扫描（X射线检测）
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