高压加速老化试验箱试验标准JEDEC22-A102-C
2013-08-12 18:53阅读：
JEDEC标准号22-A102-C
1目的
“偏见的高压灭菌器测试”进行评价耐湿性非完整性密封包装的固态器件，使用冷凝水分或水分饱和蒸汽 环境。采用压力，湿度条件下，它是一个高度加速试验 通过外部凝露条件下的温度，以加快水分渗透 保护材料（密封剂或密封件）或沿外部保护材料之间的界面的 和金属导线穿过它。本试验用于找出故障机制内部 包是破坏性的。
2，适用范围
本试验方法主要适用于耐湿性评价和鲁棒性测试。样片 进行冷凝，高湿度的气氛中在压力下迫使水分进入的包
发现的弱点，如分层和金属化腐蚀。这个测试是用来评估新
已发生了变化材料（如复合模具，模具钝化）或包或包 设计（例如模/桨大小）。然而，这种测试不应该被施加在层叠体或基于磁带 包即FR4材料，聚酰亚胺胶带或同等学历。
一些注意事项时，应考虑执行该测试，并评价测试结果。失败 机制，包括内部和外部（如由于塑料封装肿胀饱和）（例如 引线之间的导电材料）的枝晶生长，可能会产生这并不适用于本 拟申请使用条件。大多数半导体元件领域的应用没有评分 超过95％RH的条件，包括冷凝水分，如雨水或雾。的组合 高湿度，高温度（>
T克）和高压可能会产生不切实际的重大失败
因为所吸收的湿气通常对于大多数聚合物的玻璃化转变温度降低 材料。高压釜测试结果外推到一个应用程序生命应该完成 照顾
3仪器
该测试要求的压力室，能够维持指定的温度，和相对 湿度。
3.1记录
建议为每个测试周期的温度分布的永久记录，所以压力 条件可以得到验证。
JEDEC标准号22-A102-C
测试方法A102-C
测试方法A102-B（修订）
3设备（续）
3.2设备在压力下
在压力下的设备应距离不得小于3厘米的内部腔表面，不得
进行直接的辐射热。
3.3离子污染
离子污染测试设备和存储室应加以控制，以避免测试工件。
3.4蒸馏水或去离子水
蒸馏水或去离子水在室温下以最小的1兆欧姆
-
厘米的电阻率应是 使用。
4试验条件
试验条件包括温度，相对湿度，蒸汽压力和持续时间。
表1 -
温度，相对湿度和压力2,3
温度1 （干球 °C） 相对的
湿度1（％）
蒸汽压力（PSIA
/千帕）121±2
100％
29.7/205
附注
1公差适用于整个可用的测试区域。
2测试条件是连续施加在任何中期读数除外。对于中期读数，
设备应返还5.2中规定的时间内应力
3上修订本文件指定的测试条件如下： 条件为期
一4小时（-0，2）乙48小时（-0，2） Ç
96小时（-0，5） 168小时（-0
+5）
240小时（-0，8）
336小时（-0，+8）。
胁迫时间指定的内部资格要求，JESD47或适用的采购
文档
96小时的停留时间是此测试的典型。
JEDEC标准号22-A102-C
测试方法A102-C
测试方法A102-B（修订）
4测试条件（续）
注意：
对于塑料封装的微电路，它是已知的水分减少的有效玻璃化转变
温度的模制化合物。应力的有效玻璃化转变温度以上的温度，可能会导致 操作使用无关的失效机制。
5步骤
应安装在试验设备，它公开了它们的方式在规定的温度和 湿度条件下。曝光设备对周围环境的大于100
ØC和小于 10％RH，应避免，尤其是在应力上斜坡，斜坡下降和预先读出的干燥 时期。应谨慎通过设备控制或降温程序，以防止破坏性 减压下测试的部分。试验室频繁的清洁是必要的，以确保 消除污染。
5.1测试时钟
测试时钟开始时的温度和相对湿度达到子句中指定的设定点 4.0在开始和停止的斜坡下降。
5.2读数
电气试验应不早2个多小时，结束后，最迟不超过48小时 斜坡下降的室温测试的测试序列中的第一。注：对于中间 读数，设备应归还压力斜坡下降结束后96小时内。率的
通过将这些器件中，可以减少从腔室中取出后，从设备的水分流失 密封防潮袋，没有N2吹扫不应该非真空密封袋
干燥剂。当设备被放置在密封包装袋，“测试窗口时钟”在1/3的速度运行
暴露于实验室环境的设备。因此，检测窗口可以扩展到高达144 小时，时返回强调为288小时，在密封的水分通过封闭装置
阻隔袋。超过测试窗口时钟或延长设备须从测试和 应当提交新样品进行测试。
器件封装的外表面上凝结的水分可能会被删除通过接触 吸收介质或异丙醇。由于本次测试的目的是要找出故障 是允许的，它提供到包中，清洗包装设备内部的机制，或导致 不会诱发异常故障或含糊不清的有效故障。
5.3处理
手覆盖，消除任何配套的污染来源或ESD损害，应使用
处理设备和测试夹具。这种测试方法的应用是很重要的污染控制 任何高度加速水分胁迫试验。
